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品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数
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品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数
尼康 ‌CFI L Plan EPI 50x CR‌ 是一款用于半导体检测的无限远校正长工作距离物镜,NA 0.70,

工作距离约 3.0–3.9mm,对应型号 MUE35500‌‌
  品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数的详细资料:

品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数

品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数

       

       尼康 ‌CFI L Plan EPI 50x CR‌ 是一款用于半导体检测的无限远校正长工作距离物镜,NA 0.70,

工作距离约 3.0–3.9mm,对应型号 MUE35500‌‌

主要参数

1. ‌放大倍数‌:50x(配 10x 目镜时总倍率 500x)

2. ‌数值孔径(NA)‌:0.70,分辨率较高

3. ‌工作距离(WD)‌:3.9~3.0mm,属于长工作距离设计

4. ‌焦距‌:4.00mm

5. ‌物理焦深‌:0.56μm

6. ‌重量‌:240g

7. ‌接口‌:CFI60 无限远光学系统,兼容尼康 CFI60 系列显微镜

适用场景

· 主要用于 ‌半导体检测、晶圆/芯片表面观察‌,配套反射照明(EPI 同轴光)效果。

· 采用 CR 校正系统,针对 ‌FDP(平板显示器)更薄的覆盖玻璃‌ 及设备集成度、安装密度增加的情况做了优化。

     品鉴尼康L plan 50X CR长焦物镜参数




















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